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高德娱乐天津工业大学李龙女:基于国产平面设计芯片的平面型封装1700V碳化硅模块开发与性能表征

2023-08-10 22:49:57 点击量:

  ”于西安召开。论坛由第三代半导体产业技术创新战略联盟(CASA)指导,西安交通大学、极智半导体产业网()、第三代半导体产业主办,西安大学高德娱乐、中国科学院半导体研究所、第三代半导体产业技术创新战略联盟人才发展委员会高德娱乐、全国半导体应用产教融合(东莞)职业教育集团联合组织、西安和其光电股份有限公司等单位协办。

  期间,天津工业大学副教授李龙女带来了《基于国产芯片的平面型封装1700V碳化硅模块开发与性能表征》的主题报告。

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  200oC), 高导电性和高可靠的封装材料。

  报告介绍了开发采用全烧结银互连和DBC的平面型封装SiC功率模块的研究成果,研究指出材料方面采用氮化铝基板和烧结银垫块的封装结构,可明显降低双面封装结构整体应力,有利于提高模块可靠性。

  封装结构方面采用模块-C间隔排布MOS芯片和二极管方式,最高结温更低,且各芯片间的温度差异更小,且寄生电感较小平面设计,更有利于保持模块性能。基于课题组低温纳米银烧结工艺,制备基于国产芯片的平面型封装1700V碳化硅半桥模块,模块整体厚度约5 mm。

  通过测试,各栅源电压下栅源漏电流均很小。70A输出时,漏源导通压降为1.6V,与芯片I-V曲线一致,表明封装过程寄生阻抗低,双面互连也未引起芯片预损伤和老化退化。

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